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安捷倫發(fā)布業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的最新系列在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)
來(lái)源: 中國(guó)儀器儀表信息網(wǎng) 類(lèi)別:行業(yè)動(dòng)態(tài) 更新時(shí)間:2009-09-17 閱讀次
近日,安捷倫科技發(fā)布了 Medalist i3070 系列 5 在線(xiàn)測(cè)試(ICT)平臺(tái),這標(biāo)志著公司從推出屢獲殊榮 3070 和 i3070 ICT 系統(tǒng)以來(lái)已進(jìn)入第 20 個(gè)年頭。
系列 5 ICT 系統(tǒng)提供新的模擬測(cè)量技術(shù),以及業(yè)內(nèi)最快的 12MHz 混合引腳卡,使電子產(chǎn)品制造商能用與當(dāng)前 i3070 同樣的標(biāo)價(jià)得到 20% 至 30% 的吞吐率改進(jìn),使合同制造商在極大降低測(cè)試成本的同時(shí)增加測(cè)試覆蓋。
系列 5 ICT 系統(tǒng)也提供新的基礎(chǔ)設(shè)施,該基礎(chǔ)設(shè)置允許制造商更靈活地組合外部電路提高測(cè)試覆蓋和更好地控制這些電路。制造商不必再為多種夾具配備多套外電路,而把外電路放在測(cè)試頭中。用這種方法,每臺(tái)測(cè)試器只需一套外部裝置,從而顯著降低了測(cè)試成本。安捷倫已確定的合作伙伴可提供高速閃存編程解決方案,以及通過(guò)這些外電路的 LED 測(cè)試和邊界掃描解決方案。
i3070 和 3070 PC 系統(tǒng)的現(xiàn)有用戶(hù)可在新系列 5 測(cè)試器上無(wú)縫運(yùn)行他們的絕大多數(shù) ICT 程序。我們自 3070 推出以來(lái)始終保持夾具兼容性,這也保護(hù)了制造商的投資。
Agilent 測(cè)量系統(tǒng)部副總裁兼總經(jīng)理 Daniel Mak 說(shuō):“測(cè)試成本是對(duì)我們客戶(hù)的關(guān)鍵性挑戰(zhàn),i3070 系列 5 可在不犧牲任何測(cè)試覆蓋的前提下降低測(cè)試成本。通過(guò)系列 5 ICT 系統(tǒng)中新的和改進(jìn)的源測(cè)量引擎,20% 至 30% 的吞吐率增加也提高了客戶(hù)的測(cè)試效率。增加外電路還免除了測(cè)試過(guò)程中昂貴的測(cè)試步驟!
系列5 ICT 系統(tǒng)能滿(mǎn)足各種各樣在線(xiàn)測(cè)試和功能測(cè)試需要,包括對(duì)通用消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品、數(shù)據(jù)通信、汽車(chē)、航空和國(guó)防,以及醫(yī)療應(yīng)用領(lǐng)域中高度復(fù)雜和極小面積印制電路板的IEEE 1149.6邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試和有限接入測(cè)試應(yīng)用。自3070 推出以來(lái),該測(cè)試系統(tǒng)已能可靠測(cè)試各種低電壓元件。
系列 5 ICT 系統(tǒng)提供新的模擬測(cè)量技術(shù),以及業(yè)內(nèi)最快的 12MHz 混合引腳卡,使電子產(chǎn)品制造商能用與當(dāng)前 i3070 同樣的標(biāo)價(jià)得到 20% 至 30% 的吞吐率改進(jìn),使合同制造商在極大降低測(cè)試成本的同時(shí)增加測(cè)試覆蓋。
系列 5 ICT 系統(tǒng)也提供新的基礎(chǔ)設(shè)施,該基礎(chǔ)設(shè)置允許制造商更靈活地組合外部電路提高測(cè)試覆蓋和更好地控制這些電路。制造商不必再為多種夾具配備多套外電路,而把外電路放在測(cè)試頭中。用這種方法,每臺(tái)測(cè)試器只需一套外部裝置,從而顯著降低了測(cè)試成本。安捷倫已確定的合作伙伴可提供高速閃存編程解決方案,以及通過(guò)這些外電路的 LED 測(cè)試和邊界掃描解決方案。
i3070 和 3070 PC 系統(tǒng)的現(xiàn)有用戶(hù)可在新系列 5 測(cè)試器上無(wú)縫運(yùn)行他們的絕大多數(shù) ICT 程序。我們自 3070 推出以來(lái)始終保持夾具兼容性,這也保護(hù)了制造商的投資。
Agilent 測(cè)量系統(tǒng)部副總裁兼總經(jīng)理 Daniel Mak 說(shuō):“測(cè)試成本是對(duì)我們客戶(hù)的關(guān)鍵性挑戰(zhàn),i3070 系列 5 可在不犧牲任何測(cè)試覆蓋的前提下降低測(cè)試成本。通過(guò)系列 5 ICT 系統(tǒng)中新的和改進(jìn)的源測(cè)量引擎,20% 至 30% 的吞吐率增加也提高了客戶(hù)的測(cè)試效率。增加外電路還免除了測(cè)試過(guò)程中昂貴的測(cè)試步驟!
系列5 ICT 系統(tǒng)能滿(mǎn)足各種各樣在線(xiàn)測(cè)試和功能測(cè)試需要,包括對(duì)通用消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品、數(shù)據(jù)通信、汽車(chē)、航空和國(guó)防,以及醫(yī)療應(yīng)用領(lǐng)域中高度復(fù)雜和極小面積印制電路板的IEEE 1149.6邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試和有限接入測(cè)試應(yīng)用。自3070 推出以來(lái),該測(cè)試系統(tǒng)已能可靠測(cè)試各種低電壓元件。
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